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「ナノテクノロジー入門」は、主に初心者の方向けに、ナノテクノロジーの基本原理を解説します。入門編は約3か月で完結し、その後はナノテクノロジーに関する最新の話題を不定期で紹介していく予定です。

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2008/04/18

ナノテクノロジー入門/速攻入門+資料作成キット:半導体

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メールマガジン「社内ヒアリング力〜個と組織の両立型人材開発」がスタートしました。
     http://www008.upp.so-net.ne.jp/contents/hearing.html
行き過ぎた成果主義の結果、疑心暗鬼がはびこるようになった組織を、いかに立て直すか。
そのキーワードとして注目されている「社内ヒアリング」を実践重視で解説します。
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※「ナノテクノロジー入門」は、インターネットの本屋さん『まぐまぐ』を利用して
 不定期に発行(http://www.mag2.com/):ID=0000124797
※購読中止は下記のページからどうぞ。
http://www.mag2.com/m/0000124797.htm
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                        ※前回読者数=561人

※ナノテクノロジーに関する翻訳や記事制作や資料制作のニーズなどありましたら、
 contents@qj8.so-net.ne.jpにご一報ください。

■今年のゴールデン・ウィーク、半導体に強くなって、同僚から頼られてみませんか。
 情報ハブ株式会社は、「速攻入門+資料作成キット:半導体」を発売します。税込み価格3,360円。
 購入ご希望の方は、contents@qj8.so-net.ne.jp/03-3944-7988までご連絡をお願いします。
http://www008.upp.so-net.ne.jp/contents/charthandou.html

〈内容・特徴〉
・半導体の基本原理や各種技術、最新動向などを、
 ビジュアルな図表と説明文章という形でまとめた、「速攻入門+プレゼン等資料作成用キット」です。
・図表は「目次」含め41ページ(1章1ページ)のパワーポイント・ファイルです。
・図表も文章も、報告書、プレゼンテーションや講義などの資料、WEBサイト、
 メールマガジン、配布物(含有料)の一部など、さまざまな媒体への転載が自由です。
・ユーザー側で改変したり事例を加えたりして、独自の資料への書き換えが自由です。
・購入後3か月間、1回、20分以内に限り、内容についての質問に電話で解説します。
 電話代はご負担下さい。日本語300字程度で答えられる場合はメールでの解説も可。

〈購入方法など〉
・下記情報ハブ株式会社にご注文下さい。振込先口座などをメールでご連絡します。
・お振込みの連絡・確認後、ファイル(400KB強)をメール添付でお送りします。
・弊社(東京都文京区千石)にてフロッピーやCD-Rでの直接販売も可。必ず事前にご連絡下さい。

〈ご注意〉
・転載・公開はあらゆる場所でOKですが、本商品自体の転売や譲渡はできません。
・本コンテンツ全体または大半を、無断で書籍やCD-ROMなどにはできません。
・授業や講習会やセミナーなどの受講者に紙出力の形でお配りするのはOKです。
・パワーポイントのプログラム・ソフトは、購入者側でご用意ください。
・MSワードなど、ほかのファイル形式で欲しい方は、別途ご相談ください。
・社内輪講などでファイルをコピーして使いたい場合、別途ご相談ください。

〈章立て〉
1章/半導体の意味と使い道
2章/電気抵抗と抵抗率と半導体
3章/半導体となる元素と化合物
4章/電子状態でみた導体、絶縁体、半導体
5章/バイポーラとMOS
6章/pn接合とダイオード
7章/バイポーラによるトランジスタ
8章/電界効果型MOSトランジスタ
9章/半導体デバイスの全体像
10章/非同期論理回路とメモリ
11章/デジタルICの基本機能
12章/デジタルICの付加機能
13章/いろいろなASIC、そしてASSP
14章/ASIC設計の基本手順
15章/ASICの牙城に迫るFPGA
16章/CISC、RISC、そしてDSP
17章/システムLSI〜SoCとIPコア
18章/フラッシュメモリの基本原理
19章/CCDとCMOSセンサ
20章/ナノテク応用高性能有機半導体材料
21章/ファブレスとEDAとDFM
22章/半導体デバイス製造の全体的な流れ
23章/シリコン・ウェハー
24章/フォトマスクの作成
25章/広義のリソグラフィの全体像
26章/酸化膜やフォトレジスト膜の形成
27章/狭義のリソグラフィ(露光)
28章/RIEに代表されるエッチング
29章/不純物添加〜イオン注入と熱拡散
30章/化学的機械的研磨による平坦化
31章/フォトレジスト除去や洗浄や乾燥
32章/アルミニウムや銅による配線
33章/液浸やEUVを用いる短波長技術
34章/電子ビームによるリソグラフィ
35章/OPCやPSMなどの超解像度技術
36章/High-k絶縁膜とLow-k絶縁膜
37章/SOI技術や歪みシリコン技術
38章/後工程1〜ダイシング
39章/後工程2〜ボンディング
40章/半導体ロードマップITRS

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発行人 加藤良平/contents@qj8.so-net.ne.jp/03-3944-7988
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